三坐標(biāo)知識(shí)——接觸式和非接觸式測(cè)頭的優(yōu)缺點(diǎn)

發(fā)表時(shí)間：2021-08-06 09:08:03 作者：思瑞三坐標(biāo) 來(lái)源：m.gjlhsb.com 瀏覽：3134

測(cè)頭是三坐標(biāo)測(cè)量機(jī)的重要組成部分，它的性能對(duì)測(cè)量可重復(fù)性產(chǎn)生影響。測(cè)頭可分為接觸式和非接觸式兩類，應(yīng)用于不同的使用場(chǎng)景，是互為補(bǔ)充的關(guān)系。本文概述一下兩者的優(yōu)缺點(diǎn)。

接觸式測(cè)頭優(yōu)點(diǎn)：機(jī)械結(jié)構(gòu)與電子系統(tǒng)已相當(dāng)成熟，故有非常高的準(zhǔn)確性和可靠性。因其接觸式的測(cè)量特性，測(cè)量中能無(wú)視反射特性、顏色等因素，配合測(cè)量軟件用接觸的方式測(cè)量，可精確測(cè)量出物體的幾何形狀。

接觸式測(cè)頭缺點(diǎn)：測(cè)頭可能會(huì)因長(zhǎng)時(shí)間接觸造成磨損，所以需要校正測(cè)頭直徑。相較非接觸式測(cè)頭，接觸式的效率較低。對(duì)于一些內(nèi)部元件的測(cè)量，使用非接觸式測(cè)頭更為合適。

非接觸式測(cè)量的優(yōu)點(diǎn)：適用于小、薄、軟等不宜接觸工件的測(cè)量。不必做半徑補(bǔ)償。測(cè)量效率高，無(wú)需如接觸式測(cè)頭那般逐點(diǎn)測(cè)量。

非接觸式測(cè)量的缺點(diǎn)：測(cè)量精度不如接觸式測(cè)頭。在測(cè)量時(shí)，因非接觸式測(cè)頭易受工件表面的反射特性影響，如顏色、斜率等。非接觸式測(cè)量更適合于輪廓坐標(biāo)點(diǎn)的大量取樣工作，較難進(jìn)行邊線處理、凹孔處理以及不連續(xù)形狀的等測(cè)量工作。有時(shí)候工件表面的粗糙度會(huì)影響測(cè)量結(jié)果。

實(shí)際測(cè)量中，我們除了要學(xué)習(xí)書面知識(shí)以外，還需要多積累使用經(jīng)驗(yàn)，學(xué)會(huì)總結(jié)分析，從工件的性質(zhì)出發(fā)選擇合適的測(cè)量配置，這樣才能發(fā)揮出三坐標(biāo)更大的使用價(jià)值。